高溫高濕試驗箱對光伏組件PID測試的必要性
作者：
網(wǎng)絡(luò)
編輯：
瑞凱儀器
來源：
m.jxcucc.com.cn
發(fā)布日期： 2021.05.14
01、引言
近十年，光伏組件PID（Potential Induced Degradation，電勢誘導(dǎo)衰減）效應(yīng)導(dǎo)致組件功率大幅衰減的現(xiàn)象一直是業(yè)內(nèi)人士關(guān)注的焦點，東莞市瑞凱環(huán)境檢測儀器有限公司是光伏組件PID測試設(shè)備——高溫高濕試驗箱生產(chǎn)廠家，也在不斷地對各種類型光伏組件的PID效應(yīng)進行測試和研究，為光伏組件供應(yīng)商提供更合理的PID測試解決方案。瑞凱儀器具有強大的PID測試設(shè)備研發(fā)能力，同時也提供潮濕滲透試驗設(shè)備，為客戶提供高效的測試服務(wù)。
02、什么是PID測試？
光伏組件PID測試是指在高溫高濕環(huán)境下（ 85℃和85%RH ）給組件內(nèi)部帶電體與邊框之間施加等于組件系統(tǒng)額定電壓（±1000 V 或 ±1500 V）的電壓偏差，當(dāng)內(nèi)部光伏電路相對于地面為負偏壓時，框架和電池之間的電壓可導(dǎo)致玻璃中的鈉離子向電池表面漂移，電池表面通常具有氮化硅（SiN）抗反射涂層，如果這個涂層上的縫隙足夠大，允許鈉離子進入電池或電荷流向玻璃，形成的漏電流就會通過邊框或安裝支架流入大地，從而出現(xiàn)PID效應(yīng)。漏電流將使電池片的載流子及耗盡層狀態(tài)發(fā)生變化、電路中的接觸電阻和封裝材料受到電化學(xué)腐蝕，出現(xiàn)電池片功率衰減、串聯(lián)電阻增大、透光率降低、脫層等現(xiàn)象影響組件發(fā)電量及壽命。
圖1 PID效應(yīng)的漏電流路徑
03、PID測試的必要性
PID效應(yīng)對光伏組件的輸出功率影響巨大，是光伏電站發(fā)電量的“恐怖殺手”。因此，PID測試已成為光伏組件檢測項目中必不可少的項目之一。其標(biāo)準IEC62804是由光伏組件性能測試標(biāo)準IEC61215和光伏組件安全測試標(biāo)準IEC61730結(jié)合而成，能夠很好的預(yù)判光伏組件在使用過程中是否會發(fā)生PID效應(yīng)。瑞凱儀器高溫高濕試驗箱嚴格按照檢測標(biāo)準開展測試，或應(yīng)客戶要求進行加嚴PID測試。
圖2 PID測試流程圖
04、PID測試數(shù)據(jù)對比
迄今為止，東莞市瑞凱環(huán)境檢測儀器有限公司以服務(wù)光伏新能源的企業(yè)有漢能集團、東方日升新能源、晶科能源、弘晨光伏、帝龍光電、新奧光伏等，高溫高濕試驗箱對各種工藝技術(shù)的光伏組件（雙面電池組件、大尺寸硅片組件、半片組件、疊瓦組件和其他高效電池技術(shù)的組件）均可做PID測試，測試的平均衰減結(jié)果如下圖所示。
圖3 不同類型電池組件的PID測試對比
從圖示3中可以看出，無論哪種創(chuàng)新技術(shù)的光伏組件，都存在不同程度的PID效應(yīng)。
05、抗PID效應(yīng)哪種組件更好？
另外，經(jīng)過高溫高濕試驗箱的測試結(jié)果表明雙玻組件抗PID效應(yīng)更好。隨機調(diào)取100片常規(guī)組件與雙玻組件數(shù)據(jù)，從統(tǒng)計的數(shù)據(jù)中可以看出這100片雙玻組件平均衰減低于常規(guī)組件的衰減。究其原因主要是玻璃的水蒸汽透過率幾乎為零，且雙玻組件沒有金屬邊框不需要接地的獨特設(shè)計，在原理上就抑制了PID產(chǎn)生的可能。
圖4PID測試結(jié)果對比圖
06、結(jié)尾
光伏組件的PID效應(yīng)到目前為止仍然存在，但隨著光伏產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，業(yè)界同仁對PID效應(yīng)機理和PID效應(yīng)的對組件性能影響的探索已逐步深入，相信在不久的將來PID效應(yīng)將會得到徹底解決。
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